作者：(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 ; 康振川,王桂金译

出版项：上海 : 上海科学技术出版社, 1979

载体形态：111页 ; 20cm

分类号：O77

语种：中文

关键词：晶体缺陷,分析,电子显微术

内容简介