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X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分

作者:赵恩好,岳明新,周国兴,肖刚,张泉,刘新

作者单位:沈阳地质矿产研究所,东煤地质局沈阳测试中心

刊名:冶金分析

ISSN:1000-7571

出版年:2013-07-15

卷:33

期:7

起页:62

止页:67

分类号:O657.34,TQ175.1

语种:中文

关键词:X射线荧光光谱法,熔融制样,镁质耐火材料及其原料,烧失量

内容简介

采用熔融制样,建立了镁质耐火材料(制品镁砖等)及其原料(水镁石,原料镁砂等)中MgO、Al2O3、SiO2、CaO、P2O5、TiO2、TFe2O3、Na2O、K2O、MnO的X射线荧光光谱分析方法。与以往方法相比,增加了Na2O、K2O的含量测试,为最终对于MgO的准确测试提供了依据。对高镁样品(MgO含量大于90%)的熔剂体系、样品与熔剂稀释比等方面进行了考察,同时对水镁石、菱镁矿等高烧失量样品的烧失量校正进行了探讨。采用国家标准样品GBW07105和高纯镁砂配制的系列校准样品来建立校准曲线,用经验系数法回归校正共存元素间的吸收增强效应。方法的检出限在0.031%~0.45%之间。对样品进行了精密度试验,各成分的相对标准偏差(RSD,n=10)在0.31%~3.4%之间。对人工合成样品及标准样品进行测试,结果与湿法测定结果吻合。

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