作者：廖建国

作者单位：

刊名：国外耐火材料

ISSN：1673-7792

出版年：2003-04-10

卷：28

期：2

起页：36

止页：41

分类号：TQ175.12

语种：中文

关键词：粉末试样,结晶,X射线衍射测定,平行射束光学系统

内容简介

介绍了采用粉末X射线测定法对材料进行定性分析、晶格常数的精密测定、定量分析、微晶大小和晶格变形的计算、矢径分布的分析、结晶度分析、残余应力测定、综合组织分析、粉末结构分析等,并介绍了新的测定方法,即利用高分辨率平行射束光学系统的曲线分析法,对材料进行高精度的测定和评价。