作者：崔黎黎

作者单位：钢铁研究总院分析测试所

会议录名称：第七届（2009）中国钢铁年会

出版年：2009-11-11

起页：1718-1724

止页：

总页数：7

馆藏号：

分类号：TF03;TG115.33

语种：中文

会议名称：第七届（2009）中国钢铁年会

会议地点：中国北京

会议时间：2009-11-11

会议主办者：中国金属学会

关键词：X荧光光谱法;压片法;玻璃熔片法;原材料;

内容简介

X荧光光谱分析法作为一种成熟的现代分析技术,广泛用于冶金生产控制、建筑材料、地质、石油、钢铁、贵重金属、生命科学研究等领域。X射线荧光分析是目前快速分析方法之一,准确度受矿物组成、均匀性、表面结构、元素间干扰等影响。本文总结了X荧光光谱分析仪测定冶金原材料的分析方法。针对冶金原材料化学特点及成分分析要求,采用粉末压片法和玻璃熔片法制备样品。采用X射线荧光分析直接测定冶金物料各种样品中的主次元素或化合物的化学成分。实现了样品的全元素快速分析。该法具有准确、快速、简便、经济的特点,完全能满足生产要求。