原文标准名称：工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法

英文标准名称：Methods for chemical analysis of silicon metal一 Part 10:Determination of mercury content一 Atomic fluorescence spectrometry method

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标准号：GB/T 14849.10-2016

标准状态：现行

国别：中国

发布日期：2016-08-29

实施或试行日期：2017-07-01

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

起草单位：昆明冶金研究院、北京有色金属研究总院、北京矿冶研究总院

标准类型：方法

标准水平：国际先进

中国标准分类号：H;H12

国际标准分类号：77;77.120.10

页数：8

正文语种：中文

内容简介

本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中汞含量的测定，侧定范围:0.000010%～0.0010%。