您的当前位置:首页 > 图书馆 > 中文期刊 > 正文

高频红外碳硫分析仪测定铁沟料中游离碳和碳化硅

作者:杜建民,王琦,胡树戈,李雪冬

作者单位:安阳钢铁集团公司

刊名:冶金分析

ISSN:1000-7571

出版年:2001-04-30

卷:

期:2

起页:60

止页:62

分类号:TQ175

语种:中文

关键词:铁沟料,红外吸收法,游离碳,碳化硅

内容简介

本文介绍了利用高频红外碳硫分析仪 ,分别测定铁沟料中游离炭和碳化硅中的一种快速、灵敏的分析方法。通过大量的条件试验 ,确定了最佳分析方法。经过精密度试验 ,取得满意效果。

无资料下载

所需耐材币:0

相关图书
广告招租