作者：梁艳珍1,2黄健1,2

作者单位：1. 景德镇陶瓷大学2. 佛山市华夏建筑陶瓷研究开发中心

刊名：陶瓷学报

ISSN：2095-784X

出版年：2018-12-20

卷：39

期：6

起页：749-754

止页：

分类号：O657.34;TQ134.12

语种：中文

关键词：X射线荧光光谱法;硅酸锆;校准曲线;

内容简介

以ZrSiO4、SiO2、ZrO2、钾长石等标准物质及它们的合成标样来拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱（XRF）对锆石等含锆化合物的精确测定,同时测定硅酸锆样品中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O、P2O5、SO3、ZrO2、HfO2等主次组分。发现样品与99.5%的四硼酸锂做熔剂在熔融稀释比为1:10时混合均匀,加入NH4Br为脱模剂的情况下,在1050-1100℃下预熔180 s后熔融900 s并静止10 s,制得测定熔融片,其结果与标准物质认定值基本一致,各组分测定结果的测量误差小于0.5%,相对标准偏差（RSD,n=5）小于10%。