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X射线荧光光谱法测定菱镁矿中SiO2、CaO和MgO含量

作者:李月华,赵丹

作者单位:本钢板材质检计量中心

刊名:金属世界

ISSN:1000-6826

出版年:2023-03-15

卷:

期:2

起页:40-43

止页:

分类号:O657.34;P575.4

语种:中文

关键词:

内容简介

采用试样烧损后熔融法制样,以标准物质为参照物建立工作曲线,建立了用X射线荧光光谱法测定菱镁矿中SiO2、CaO、MgO含量方法。讨论了制样方法、熔剂的选择、样品与熔剂的稀释比例、熔融制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响;探讨了菱镁石样品烧损量对测定结果的影响。消除基体干扰,通过和化学分析方法进行对照实验,本法精密度高、稳定性好、操作简单、易掌握、测定速度快,满足生产要求。

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