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X射线荧光光谱法对硅砂中主要成分的检测

作者:焦念宝

作者单位:济南圣泉集团股份有限公司

刊名:山东化工

ISSN:1008-021X

出版年:2024-04-23

卷:53

期:8

起页:162-166

止页:

分类号:O657.34;TQ127.2

语种:中文

关键词:XRF荧光光谱仪;玻璃片;硅砂;日本耐火材料技术协会;

内容简介

建立了一种对硅砂中成分进行快速测定的方法。样品经过碳化钨的研磨,制成能通过200目(筛孔径0.075 mm)标准筛的粉末,经1 000℃灼烧2 h,去除里面含有的碳以及有机物。按照特定的比例在1 050℃的高频熔样炉中制成玻璃片。标准物质采用日本耐火材料技术协会系列标准物质,按照说明书800℃灼烧后,按照和样品同样的熔样方法制作玻璃标片,在XRF光谱仪中选定待测元素的2θ角以及PHD能级范围,进行测定。标准曲线制作完毕后,用国家标准物质进行检测,经检测,该方法检测精确度高,误差小,能够满足化学分析的要求,结果令人满意。该方法适用于硅质砂岩以及铸造用砂。

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