作者：李友胜,李凝芳

作者单位：武汉科技大学高温陶瓷与耐火材料湖北省重点实验室!武汉4300812,武汉理工大学

刊名：耐火材料

ISSN：ISSN1001-1935

出版年：2001-01-01

卷：

期：04

起页：233

止页：235

分类号：

语种：中文

关键词：AlN微粉;;X射线光电子能谱(XPS);;表面结合状态

内容简介

通过X射线光电子能谱 (XPS)分析研究了碳热还原氮化法制备的AlN微粉的表面结合状态。结果表明 :AlN微粉的表面有明显的氧化层存在 ;AlN微粉表面结合状态为Al—O和Al—N复合型结合 ;杂质元素W主要是由球磨介质中的WC引入的 ,并以WO2 - 4形式分布于AlN微粉表面。