您的当前位置:首页 > 图书馆 > 中文期刊 > 正文

SEM IPS10型图像分析仪测量晶体粒径

作者:黎芳,张丽华,刘卓峰

作者单位:洛阳耐火材料研究院!洛阳471039,洛阳耐火材料研究院!洛阳471039,洛阳耐火材料研究院!洛

刊名:耐火材料

ISSN:ISSN1001-1935

出版年:1999-01-01

卷:

期:05

起页:284

止页:285

分类号:

语种:中文

关键词:图像分析仪;;晶体粒径;;直方图

内容简介

SEMIPS10型图像分析仪系统可以自动、准确地测量晶体等目标的尺寸,对大量测量数据进行统计计算,求出平均直径、标准偏差等,并绘制晶体粒径分布直方图。

全文下载

所需耐材币:0.00

相关图书
广告招租